実用表面分析セミナー 2014

2014年11月28日

表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術的研究はもとより、産業界における研 究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本セミナーは、分析機器メーカーと分析会社の協力により、口頭発表とポスター展示を併設して、表面分析の応用面における情報交換の場を提供し、表面分析の解析技術の向上に役立つ最新の分析技術の紹介や、各種材料を分析する場合に特有のノウハウ・ヒントになる内容をたくさん盛り込んでおります。

企業展示だけの参加も歓迎します。多数の皆様のご参加をお待ちしております。

開催概要

日時
2014年11月28日(金) 10:25~17:30
場所
神戸大学百年記念会館六甲ホール [六甲台第2キャンパスのNo.57]
参加費
無料
定員
200名
お申込み方法
実用表面分析セミナー2014でのONLINE申込み推奨
主催
(公社)日本表面科学会関西支部、神戸大学研究基盤センター
お問い合わせ先
神戸大学 研究基盤センター機器分析部門 藤居
Tel:078-803-6116
E-mail:fujiiyos@kobe-u. ac.jp
※メールアドレスの一部 (ac.jp の前など) には、アドレス収集ロボット対策として半角スペースが挿入されております。メールアドレスご使用の際には、適宜修正願います。

講演プログラム

時間 タイトル 講演者
10:25 開催の挨拶 日本表面科学会関西支部長 大西 洋
10:30 最新の軟X線分光器(SXES)を用いた材料評価 日本電子株式会社 高倉 優
10:45 最新の電子分光装置と測定技術 アルバック・ファイ株式会社 間宮一敏
11:00 PAHイオンスパッタによる薄膜の深さ方向XPS分析 株式会社日産アーク 佐藤 誓
11:15 最新のToF-SIMSを用いた分析技術 MST材料科学技術振興財団 増留春美
11:30 実用的なLaser-SNMS分析装置FILMERの紹介と分析実例 株式会社トヤマ 石川丈晴
11:45 CAMECA社SIMS装置のご紹介 アメテック株式会社 石川真起志
12:00 (昼食) ポスターセッション・展示
13:15 電気物性SPMの紹介 株式会社日東分析センター 國年弘二
13:30 AFM-Ramanによる最新分析技術とアプリケーション 株式会社堀場製作所 中田 靖
13:45 走査型プローブ顕微鏡(SPM)の最新技術 株式会社島津製作所 大田昌弘
14:00 “Non-Scanning”測定が可能にする新しい表面形状解析 日本カンタム・デザイ ン株式会社 片倉大輔
14:15 Omicron Nanotechnologyの表面観察・表面分析装置 Omicron Nanotechnology Japan 富塚 仁
14:30 (休憩) ポスターセッション・展示
14:45 有機ELデバイスにおける表面分析技術 株式会社コベルコ科研 松尾修司
15:00 XAFSによる化学状態・配位環境の分析事例 株式会社東レリサーチセンター 国 須正洋
15:15 ご飯の美味しさ評価 株式会社KRI 長瀧篤子
15:30 発生ガス分析法(TDS,TPD-MS)による薄膜材料の評価 東芝ナノアナリシス株式 会社 岡本純子
15:45 TEMによる高分子材料の評価技術 株式会社カネカテクノリサーチ 本田誠之
16:00-17:30

★ポスターセッション・企業展示★

(上記企業、日立ハイテクソリューションズ、神戸大学研究基盤センター)


(研究基盤センター)