表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術的研究はもとより、産業界における研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本セミナーは、分析機器メーカーと分析会社の協力により、口頭発表とポスター展示を併設して、表面分析の応用面における情報交換の場を提供し、表面分析の解析技術の向上に役立つ最新の分析技術の紹介や、各種材料を分析する場合に特有のノウハウ・ヒントになる内容をたくさん盛り込んでおります。

企業展示だけの参加も歓迎します。多数の皆様のご参加をお待ちしております。

日時

2012年11月30日 (金) 10:30～17:15

場所

神戸大学百年記念館 (神大会館) 六甲ホール (六甲台第2キャンパス)

参加費

無料

定員

200人

お申し込み方法

ONLINE申し込み 推奨

主催

(社) 日本表面科学会関西支部、神戸大学研究基盤センター

お問い合わせ先

神戸大学研究基盤センター 機器分析部門 藤居
Tel: 078-803-6116
E-mail: fujiiyos@kobe-u. ac.jp

※メールアドレスの一部 (ac.jp の前など) には、アドレス収集ロボット対策として半角スペースが挿入されております。メールアドレスご使用の際には、適宜修正願います。

講演プログラム

時間	タイトル	講演者
10:30	高分解能SEMによる材料評価技術	カネカテクノリサーチ　藤本亜由美
10:45	EDXの最新技術と応用分析例	堀場製作所　宮坂真太郎
11:00	EMS、SEM/TEM各顕微鏡を用いたデバイスの評価	MST材料科学技術振興財団　若槻昇
11:15	3次元アトムプローブによる駆動用磁石分析	東芝ナノアナリシス　内田博
11:40	RF-GD-OES 最新の分析技術	リガク　児玉憲治
11:55	走査型プローブ顕微鏡による材料評価技術	島津製作所　大田昌弘
12:10	非接触モードAFMを用いた表面評価	パーク・システムズ・ジャパン　鈴木峰春
12:25	(昼食) ポスターセッション
13:25	TOF-SIMSによる試料断面方向からの評価事例	住化分析センター　佐々木寿教
13:40	FIB-TOF-SIMSを用いた最新分析技術	トヤマ　柏木隆宏
13:55	最新のTOF-SIMSを用いた表面分析技術	アルバック・ファイ　飯田真一
14:10	GCIB搭載TOF-SIMSによる有機分子の深さ方向分析	東レリサーチセンター　小原田一真
14:35	高機能XPSによる電池材料の分析技術	日産アーク　馬場輝久
14:50	大気非暴露下での電池材料の評価技術	日東分析センター　武内崇夫
15:05	各種物理分析技術を用いた水蒸気バリア膜の総合評価	コベルコ科研　小北哲也
15:30	ラマンイメージングを用いた最新アプリケーション	ナノフォトン　久保田直義、能登環奈
15:45	CAMECAの新SIMS装置紹介	アメテック　石川真紀志
16:00	EPMA/AES/XPSを用いた最新の応用分析例	日本電子　島政英
16:15～17:15	ポスターセッション・企業展示 (上記企業、及び、日立ハイテクソリューションズ、神戸大学研究基盤センター)