表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術的研究はもとより、産業界における研 究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本セミナーは、分析機器メーカーと分析会社の協力により、口頭発表とポスター展示を併設して、表面分析の応用面における情報交換の場を提供し、表面分析の解析技術の向上に役立つ最新の分析技術の紹介や、各種材料を分析する場合に特有のノウハウ・ヒントになる内容をたくさん盛り込んでおります。

企業展示だけの参加も歓迎します。多数の皆様のご参加をお待ちしております。

開催概要

日時

2014年11月28日(金) 10:25～17:30

場所

神戸大学百年記念会館六甲ホール [六甲台第2キャンパス]

参加費

無料

定員

200名

お申込み方法

実用表面分析セミナー2014でのONLINE申込み推奨

主催

(公社)日本表面科学会関西支部、神戸大学研究基盤センター

お問い合わせ先

神戸大学 研究基盤センター 機器分析部門 藤居
Tel:078-803-6116
E-mail:fujiiyos@kobe-u. ac.jp

※メールアドレスの一部 (ac.jp の前など) には、アドレス収集ロボット対策として半角スペースが挿入されております。メールアドレスご使用の際には、適宜修正願います。

講演プログラム

時間	タイトル	講演者
10:25	開催の挨拶	日本表面科学会関西支部長 大西 洋
10:30	最新の軟X線分光器(SXES)を用いた材料評価	日本電子株式会社 高倉 優
10:45	最新の電子分光装置と測定技術	アルバック・ファイ株式会社 間宮一敏
11:00	PAHイオンスパッタによる薄膜の深さ方向XPS分析	株式会社日産アーク 佐藤 誓
11:15	最新のToF-SIMSを用いた分析技術	MST材料科学技術振興財団 増留春美
11:30	実用的なLaser-SNMS分析装置FILMERの紹介と分析実例	株式会社トヤマ 石川丈晴
11:45	CAMECA社SIMS装置のご紹介	アメテック株式会社 石川真起志
12:00	(昼食) ポスターセッション・展示
13:15	電気物性SPMの紹介	株式会社日東分析センター 國年弘二
13:30	AFM-Ramanによる最新分析技術とアプリケーション	株式会社堀場製作所 中田 靖
13:45	走査型プローブ顕微鏡(SPM)の最新技術	株式会社島津製作所 大田昌弘
14:00	“Non-Scanning”測定が可能にする新しい表面形状解析	日本カンタム・デザイ ン株式会社 片倉大輔
14:15	Omicron Nanotechnologyの表面観察・表面分析装置	Omicron Nanotechnology Japan 富塚 仁
14:30	(休憩) ポスターセッション・展示
14:45	有機ELデバイスにおける表面分析技術	株式会社コベルコ科研 松尾修司
15:00	XAFSによる化学状態・配位環境の分析事例	株式会社東レリサーチセンター 国 須正洋
15:15	ご飯の美味しさ評価	株式会社KRI 長瀧篤子
15:30	発生ガス分析法(TDS,TPD-MS)による薄膜材料の評価	東芝ナノアナリシス株式 会社 岡本純子
15:45	TEMによる高分子材料の評価技術	株式会社カネカテクノリサーチ 本田誠之
16:00-17:30	★ポスターセッション・企業展示★ (上記企業、日立ハイテクソリューションズ、神戸大学研究基盤センター)