表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術的研究はもとより、産業界における研 究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本セミナーは、分析機器メーカーと分析会社の協力により、口頭発表とポスター展示を併設して、表面分析の応用面における情報交換の場を提供し、表面分析の解析技術の向上に役立つ最新の分析技術の紹介や、各種材料を分析する場合に特有のノウハウ・ヒントになる内容をたくさん盛り込んでおります。
企業展示だけの参加も歓迎します。多数の皆様のご参加をお待ちしております。
開催概要
- 日時
- 2014年11月28日(金) 10:25~17:30
- 場所
- 神戸大学百年記念会館六甲ホール [六甲台第2キャンパス]
- 参加費
- 無料
- 定員
- 200名
- お申込み方法
- 実用表面分析セミナー2014でのONLINE申込み推奨
- 主催
- (公社)日本表面科学会関西支部、神戸大学研究基盤センター
- お問い合わせ先
-
神戸大学 研究基盤センター 機器分析部門 藤居
Tel:078-803-6116
E-mail:fujiiyos@kobe-u. ac.jp※メールアドレスの一部 (ac.jp の前など) には、アドレス収集ロボット対策として半角スペースが挿入されております。メールアドレスご使用の際には、適宜修正願います。
講演プログラム
時間 | タイトル | 講演者 |
---|---|---|
10:25 | 開催の挨拶 | 日本表面科学会関西支部長 大西 洋 |
10:30 | 最新の軟X線分光器(SXES)を用いた材料評価 | 日本電子株式会社 高倉 優 |
10:45 | 最新の電子分光装置と測定技術 | アルバック・ファイ株式会社 間宮一敏 |
11:00 | PAHイオンスパッタによる薄膜の深さ方向XPS分析 | 株式会社日産アーク 佐藤 誓 |
11:15 | 最新のToF-SIMSを用いた分析技術 | MST材料科学技術振興財団 増留春美 |
11:30 | 実用的なLaser-SNMS分析装置FILMERの紹介と分析実例 | 株式会社トヤマ 石川丈晴 |
11:45 | CAMECA社SIMS装置のご紹介 | アメテック株式会社 石川真起志 |
12:00 | (昼食) ポスターセッション・展示 |
|
13:15 | 電気物性SPMの紹介 | 株式会社日東分析センター 國年弘二 |
13:30 | AFM-Ramanによる最新分析技術とアプリケーション | 株式会社堀場製作所 中田 靖 |
13:45 | 走査型プローブ顕微鏡(SPM)の最新技術 | 株式会社島津製作所 大田昌弘 |
14:00 | “Non-Scanning”測定が可能にする新しい表面形状解析 | 日本カンタム・デザイ ン株式会社 片倉大輔 |
14:15 | Omicron Nanotechnologyの表面観察・表面分析装置 | Omicron Nanotechnology Japan 富塚 仁 |
14:30 | (休憩) ポスターセッション・展示 |
|
14:45 | 有機ELデバイスにおける表面分析技術 | 株式会社コベルコ科研 松尾修司 |
15:00 | XAFSによる化学状態・配位環境の分析事例 | 株式会社東レリサーチセンター 国 須正洋 |
15:15 | ご飯の美味しさ評価 | 株式会社KRI 長瀧篤子 |
15:30 | 発生ガス分析法(TDS,TPD-MS)による薄膜材料の評価 | 東芝ナノアナリシス株式 会社 岡本純子 |
15:45 | TEMによる高分子材料の評価技術 | 株式会社カネカテクノリサーチ 本田誠之 |
16:00-17:30 |
★ポスターセッション・企業展示★ (上記企業、日立ハイテクソリューションズ、神戸大学研究基盤センター) |