神戸大学大学院システム情報学研究科の永田真教授の研究グループと、東北大学、ルネサスエレクトロニクス株式会社は、高度化する携帯端末が、その内部で自己発生するノイズを拾い通信性能を劣化する『自家中毒』について、ICチップレベルで診断する技術を共同開発しました。
2013年9月10日から米国・アナハイムで開かれた、IEEE International Test Conference (ITC) 2013で発表しました。半導体集積回路のテスト・診断技術分野において、世界で最も認知度の高い国際会議です。
無線利用の拡大によりますます周波数資源がひっ迫する中で、高密度実装された携帯端末等の無線機器内部では、通信品質を劣化させ、周波数の効率利用を妨げるノイズ問題が深刻化しています。とりわけ、移動体通信向けICチップでは、デジタル通信プロセッサの大規模化と、アナログ無線通信の高感度化の要求が厳しく、ICチップレベルのノイズ干渉問題が顕在しています。
本研究開発では①ICチップにおいて内部ノイズが発生・伝搬する過程を模擬してノイズ分布を実験検証するハードウェア・エミュレーション技術、②このエミュレーション技術と通信システム・シミュレーション技術の統合によりICチップの内部ノイズが携帯端末の受信性能に及ぼす影響を診断する技術―を世界で初めて確立しました。
本研究は、総務省・電波利用料制度による電波資源拡大のための研究開発課題「高速・高品質な無線通信実現のためのICチップレベルの低ノイズ化技術の研究開発」(研究開発期間: H22-H25) によるものです。